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當(dāng)前位置:首頁   >  產(chǎn)品中心  >  物理光學(xué)儀器  >  熔點(diǎn)儀  >  SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電

顯微熔點(diǎn)儀 上海儀電

簡要描述:應(yīng)用范圍:測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

  • 產(chǎn)品型號:SGW X-4B
  • 廠商性質(zhì):其他
  • 更新時間:2018-06-08
  • 訪  問  量:2942

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃
zui小讀數(shù):0.1℃
測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時)
±2℃(在200~300℃時)
配雙目體視顯微鏡
光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)

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